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塵埃粒子無處不在 潔凈室電路板清潔度測試方法

時間:2020-12-08 08:50 點擊次數(shù):
在電路板和組裝行業(yè)中進行的清潔度測試包括對樣品的分析,以確定污染物材料的“類型”或“數(shù)量”,對于產(chǎn)品質(zhì)量和市場準備狀況至關(guān)重要。這種污染物質(zhì)可能是任何東西。它可以大或??;對于分析人員或請求者未知,已知,預(yù)期或意外。使用各種分析技術(shù)進行潔凈室清潔度測試可以幫助確定存在哪些材料以及存在多少其他物質(zhì),是塵埃粒子還是微生物,或者是其他金屬粉末。
電路板塵埃檢測
 
傳統(tǒng)上,當認為觀察到的污染物具有有機成分時,會通過傅立葉變換紅外光譜(FTIR)進行分析。通常,這些污染物材料是裝配級樣品的問題,例如可能導(dǎo)致腐蝕并導(dǎo)致高電阻短路的材料。除了電路板/組件樣品外,F(xiàn)TIR還可用于分析存在未知材料的任何類型的樣品。

測試程序還可以幫助評估樣品的一致性,質(zhì)量水平和外部成分的百分比。紅外輻射穿過材料,形成一個光譜,該光譜用于照亮樣品的分子吸收和透射的獨特特性。與計算機生成的算法結(jié)合使用,它是識別材料的定量分析的準確方法。

FTIR是一種非破壞性技術(shù),可以為紅外光譜分析的色散或濾光方法提供更好的替代方法。它更精確,并且只需一臺機器即可提供機械上簡單的測量過程。FTIR清潔度測試的其他屬性包括提高的掃描靈敏度水平和更高的光通量,兩者相結(jié)合來減少外部噪聲的存在。

 

FTIR的最大優(yōu)勢通常是過程速度。以前,潔凈度測試中使用的分散儀器提供了緩慢的掃描過程,從而影響了工程和制造的生產(chǎn)率。FTIR技術(shù)如此先進,以至于它可以通過干涉儀產(chǎn)生的獨特信號同時測量所有紅外頻率。因為可以在幾秒鐘內(nèi)測量信號,所以該過程減少到以前可接受的標準的幾分之一。

離子檢測

通過(IC)進行的分析為選定用于測試的特定離子種類提供了與清潔度有關(guān)的數(shù)據(jù)。與FTIR相似,某些特定的離子物質(zhì)可能會導(dǎo)致腐蝕或引起電氣性能問題。通過IC清潔度測試獲得的數(shù)據(jù)可用于與已知要求進行比較,用于建立過程“控制”或用于調(diào)查更廣泛的“故障分析”主題。

IC測試可對帶正電和帶負電的離子的材料進行精確的定性和定量測定。離子色譜法可以分離和檢測痕量離子物質(zhì)和其他物質(zhì),從硅酸鹽和碳水化合物到氨基和弱有機酸。IC的主要優(yōu)勢之一是能夠分析分子種類,而不是關(guān)注現(xiàn)有元素。使用這種清潔度測試方法,可以確定所有類型的分子材料和礦物質(zhì)的質(zhì)量,以及從食品和飲料產(chǎn)品到土壤和水樣的所有物質(zhì)的純度。在潔凈室檢測中,適合檢測塵埃種類,是金屬粉塵還是土壤飛塵,從而分析出,潔凈室需要加強管控方向。

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